搜索结果: 121-135 共查到“电子科学与技术 元件”相关记录146条 . 查询时间(0.024 秒)
新型热压敏薄膜电路元件
电路元件 热压敏薄膜
2008/7/28
该项目产品可以自由弯曲、卷绕、折叠，可依照空间布局要求任意安排，并在三维空间任意移动和伸缩，从而达到元器件装配和导线连接的一体化。利用该项目产品可大大缩小电子产品的体积，适用电子产品向高密度、小型化、高可靠方向发展的需要。因此，该项目产品在航天、军事、移动通讯、手提电脑、计算机外设、PDA、数字相机等领域或产品上得到了广泛的应用。该项目的开发成功对促进我国电子化学品材料的科技进步和国产化的发展具有...
新型热压敏薄膜电路元件
薄膜电路 热压敏 薄膜元件
2008/7/25
热压敏薄膜电路是80年代后期才发展起来的一种新型电路连接材料。它以粘接的方式将电子器件和电路连接起来，广泛应用于液晶显示器件（LCD）的连接，比如：液晶电视、笔记本电脑、计算机外设、PDA、数字相机等领域。它的主要特点是：不需要焊接，操作简单方便，只需150℃左右热压7～10秒即可牢固地粘在需要连接的元器件上，实现电器件之间的导通，可满足电路精细间距的需要，可使显示器件更薄型化、轻型化。该公司研究...
采用分步迭代算法设计制作衍射光学元件
衍射光学元件 光束整形 均匀照明 分步迭代优化
2008/5/24
结合均匀照明相位器件的设计实例，介绍最新提出的基于迭代框架的优化方法，并应用该方法设计制作了16台阶的衍射光学元件并对其进行了测试，验证了设计原理及方法的正确性，且对加工中可能出现的误差进行了分析和讨论。测试结果验证了采用多台阶相位结构的设计方案能有效提高工艺宽容度。
用功率谱密度坍陷评价光学元件波前中频误差特性
功率谱密度(PSD) 功率谱密度坍陷 Radon变换
2008/5/24
扼要介绍了光学元件波前二维功率谱密度的计算方法，并引入功率谱密度坍陷的概念描述光学元件波前频谱特性。功率谱密度坍陷是对二维功率谱密度在不同角度上进行Radon变换得到的投影，它既利用了光学元件波前的所有有效数据，又沿袭了一维功率谱密度简明直观的特点。虽然功率谱密度坍陷在结果的表现形式和量纲方面与一维功率谱密度相同，但功率谱密度坍陷在评价光学元件波前频谱特性方面比用一维功率谱密度和二维功率谱密度更具...
由中国电子学会元件分会电子变压器技术部会同中国电源学会电子变压器电感器专业委员会联合举办的2008年中国电子变压器电感器学术年会于2008年4月18－21日在山东省威海市召开，与会代表120多人。年会的宗旨是，加强国内外电子变压器、电感器技术和应用领域的学术交流、总结分享技术成果和经验技巧，探讨未来技术应用的发展趋势和方向。
会议邀请专家做了主题演讲，其中有原EPCOS等公司的研发部主管何可...
中国电子学会元件分会、中国电子元件行业协会、IEEE北京分会CPMT专业委员会与UFFC专业委员会联合举办第15届电子元件学术年会与中国电子元件行业协会成立二十周年会议同时举行，定于2008年11月14－16日在北京市召开。部分学术年会的论文在大会上交流。现将征文内容及有关事项通知如下：
学术会议主题：向电子元器件设计、制造和装备一体化进军。
论文的范围和题目纲要：
1电子元件近...
HP创造出第四种电路元件，PC启动毋须加载
HP 电路元件 PC
2008/5/16
HP Labs(惠普实验室)的研究者制造了一种重要的新电子组件概念的第一个可工作的原形，这种电子组件可能使即开型PC(instant-on PCs)成为可能，即PC开机时不再需要”系统加载“的等待过程。
HP Labs的研究者已经制造了一种重要的新电子组件的第一个可以工作的原形，这种新组件被叫做”忆阻器“，或记忆电阻器(memory resistor)。在此之前，这种电路元件还只是被加...
高功率激光光学元件面形参数表征
光学元件面形 波前位相梯度 远场焦斑 功率谱密度
2008/4/30
针对神光-Ⅲ原型装置使用的光学元件，基于国内光学元件加工现状，结合空间频段的概念，对高功率固体激光驱动器所需光学元件不同的面形评价参数进行了阐述。结合对激光远场焦斑的影响，对面形评价参数的重要性进行了举例说明。提出了面形的综合评价方式，全面界定面形各项评价参数，对光学元件的评价具有一定的参考价值。
高功率激光诱导光学元件损伤阈值测量的不确定度分析
激光损伤阈值 相对不确定度 相对合成不确定度 直线拟合
2008/4/30
激光诱导损伤阈值作为一实验参量，对其结果作不确定度分析有利于激光工作者在某个精度范围内获知该参量的信息。从激光损伤和损伤阈值定义出发，分析了基于ISO11254的损伤几率测试法测试激光诱导损伤阈值的不确定度来源，包括激光能量测量、激光光斑有效面积测量、各能量密度处损伤几率的计算以及对损伤几率点进行直线拟合这4个方面。并利用统计学原理和线性拟合等理论对这4个方面引起的不确定度分量及最终测试结果的相对...
光学元件的表面划痕及其对入射激光的调制作用
时域有限差分 表面缺陷 激光损伤阈值 光强分布
2008/4/30
对光学元件表面划痕进行了细致的观察，并将它们分为单划痕、双划痕和多划痕三类，采用时域有限差分方法，以加工过程中常见的直径为二分之一波长的半圆形划痕为基本研究对象，数值模拟了位于光学元件前后表面的多条划痕附近的空间光强分布，总结了在不同划痕条数下光强最大值随着划痕间距变化的曲线图。结果表明：位于光学元件后表面的划痕比位于前表面时更加容易引起光学损伤；在多条划痕情况下，空间光强最大值随着划痕间距的增大...
激光预处理对光学元件膜层性能的影响
光学膜层 激光预处理 机理 预处理过程
2008/4/30
激光预处理是使膜层提高损伤阈值的一种有效手段，现在流行的激光预处理机理模型之一是缺陷消除模型。实验从对元件膜层激光预处理前后各项参数的对比出发，分析了激光预处理对膜层的影响，说明了光学元件膜层激光预处理的过程，是对膜层去除缺陷、固化、洁净的过程。
建立了激光与透射型光学元件相互作用的热弹性力学模型，解析求解了自由、固定以及一种人为边界条件下光学元件热-力学响应的定解问题。研究发现，不同的边界条件对破坏阈值有很大的影响。针对光学元件中热应力的演变情形，设计了一种“最佳”边界，消除了激光作用过程中产生的拉应力，从而使破坏阈值在理论上达到最大值。
连续波DF高功率激光引起的光学元件热畸变和损伤
热畸变 激光损伤 多层膜 DF激光
2008/4/30
分析了四分之一波长膜堆和金属介质增强激光反射膜的吸收，计算和测量了连续波高功率激光辐照下光学元件的热变形。对理论计算和实测结果进行了比较。
强激光光学元件表面轮廓功率谱密度函数及其估计
功率谱密度函数 表面轮廓测量
2008/4/29
本文在扼要描述了光学元件表面轮廓测量中功率谱密度（PSD）函数的基本概念、公式和应用基础上，重点讨论了光学元件表面低频和中高频空间频率PSD对光场分布的影响，并给出了强激光光学元件表面PSD函数曲线的几个实测结果和分析。