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IGBT在关断过程中所发生的动态雪崩现象是导致其失效的重要原因之一。为研究IGBT动态雪崩失效机理,利用Silvaco软件对其进行仿真分析。通过对动态雪崩击穿机制、电流密度分布和温度分布的仿真分析,得出动态雪崩可以产生移动的电流丝和移动十分缓慢或固定不动的“死丝”。引起器件失效的是动态雪崩形成的死丝,死丝会导致IGBT内局部温度的急剧增加,最终因局部温度过高烧毁器件导致IGBT的失效。在此基础上分...
国家863计划重大项目“基于失效机理的LED照明系统可靠性与可控寿命技术研究”课题启动会顺利召开
国家863计划重大项目 基于失效机理的LED照明系统可靠性与可控寿命技术研究 课题启动会
2015/4/20
2015年4月8日，国家863计划新材料技术领域高效半导体照明关键材料技术研发（四期）重大项目“基于失效机理的LED照明系统可靠性与可控寿命技术研究”课题启动会在中国科学院半导体研究所顺利召开。该课题由中国科学院半导体研究所承担，中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、工业和信息化部电子第五研究所、武汉大学、中山大学等10家单位参与，是为近年来LED可靠性领域研究范围最广、国家资助力度最大的项目，...