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搜索结果: 1-1 共查到“电子科学与技术动态雪崩”相关记录1条 . 查询时间(0.059 秒)

IGBT动态雪崩失效机理仿真分析 IGBT 动态雪崩失效机理温度电场 2024/3/5

IGBT在关断过程中所发生的动态雪崩现象是导致其失效的重要原因之一。为研究IGBT动态雪崩失效机理,利用Silvaco软件对其进行仿真分析。通过对动态雪崩击穿机制、电流密度分布和温度分布的仿真分析,得出动态雪崩可以产生移动的电流丝和移动十分缓慢或固定不动的“死丝”。引起器件失效的是动态雪崩形成的死丝,死丝会导致IGBT内局部温度的急剧增加,最终因局部温度过高烧毁器件导致IGBT的失效。在此基础上分...