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搜索结果: 1-4 共查到电子科学与技术 光电二极管相关记录4条 . 查询时间(0.174 秒)
近日,合肥工业大学微电子学院安徽省MEMS工程技术研究中心许高斌教授团队于永强课题组针对有广泛应用前景的新型成像技术——单像素成像(single-pixel imaging),设计并制备了用于Hadamard单像素成像的低暗电流V2CTx/n-Si vdW肖特基光电二极管,在不添加任何滤波电路的条件下实现了高质量的128*128像素的成像结果。相关研究成果以“Low dark-current V2...
近日,在西安交通大学电信学院微电子学院贺永宁教授和青年教师彭文博的指导下,博士生潘子健和李芳沛等研究成员以异型和同型异质结光电二极管为研究对象,通过对比压电光电子学效应在两种异质结光电二极管器件中的性能调制作用,系统地研究了不同器件结构对压电光电子学效应的影响。研究结果表明,压电光电子学效应能使p-n异型异质结光电二极管器件的性能增强约150%,而仅能使n-n同型异质结光电二极管器件的性能增强约5...
噪声性能是限制光电检测电路探测能力的重要因素,针对这个问题,设计了基于光电二极管反偏的光电检测电路并分析其电路噪声,分析噪声时,创新性地从光电检测电路结构出发,将整个电路等效为光电二极管、晶体三极管、运算放大器三个级联模块,详尽分析了每个模块的噪声来源及其相关因素,计算每个模块的输出噪声,最终得出整个电路的输出噪声电压模型。根据输出噪声电压模型,确定了电路的各项参数,预估电路的输出噪声电压,最后,...
对飞秒激光辐照下硅光电二极管损伤阈值进行了实验测量,对从1s到60fs不同脉宽激光辐照下硅光电二极管损伤阈值进行了讨论。实验数据表明,在1s到10ns脉宽范围内损伤所需能量密度近似而非严格地与脉宽的平方根成正比。信号分析表明硅光电二极管的损伤主要由热效应造成,而60fs激光辐照下的损伤阈值为0.1J/cm2,明显偏离普通温度分布预言的趋势。

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