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搜索结果:
1-1
共查到
“
半导体技术 原位测试系统
”
相关记录1条 . 查询时间(0.715 秒)
中国科学院新疆理化技术研究所专利:一种数字集成电路辐射效应
原位测试系统
及
测试
方法
中国科学院新疆理化技术研究所
专利
数字集成电路
辐射效应
原位测试系统
2023/11/30
本发明提供一种数字集成电路辐射效应
原位测试系统
及
测试
方法,用于解决现有的辐射效应
原位测试系统
无法实现对数字集成电路的性能和功能进行全面
测试
的技术问题。
测试系统
包括驱动单元、采集单元及分析单元;采集单元包括SMU
测试
模块和至少一个数字向量
测试
模块,SMU
测试
模块用于为待测数字集成电路供电并采集待测数字集成电路的功耗电流;数字向量
测试
模块用于为待测数字集成电路输入电信号激励,并采集待测数字集成电路输出...
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