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本发明提供一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法，用于解决现有的辐射效应原位测试系统无法实现对数字集成电路的性能和功能进行全面测试的技术问题。测试系统包括驱动单元、采集单元及分析单元；采集单元包括SMU测试模块和至少一个数字向量测试模块，SMU测试模块用于为待测数字集成电路供电并采集待测数字集成电路的功耗电流；数字向量测试模块用于为待测数字集成电路输入电信号激励，并采集待测数字集成电路输出...
AlteraSRAM型现场可编程门阵列总剂量辐射效应
SRAM型现场可编程门阵列 总剂量效应 辐射
2010/2/26
通过比较不同模块的输出波形、不同源程序的功耗电流以及输出端口的高、低电平随总剂量的变化关系，研究了Altera SRAM型现场可编程门阵列（FPGA）器件在60Co γ源辐照下的总剂量辐射效应。实验结果表明：器件的功能和功耗电流随总剂量的变化不同；不同模块随总剂量的变化关系相似，不同源程序的功耗电流随总剂量的变化趋势一致；总剂量辐照实验时功耗电流可作为判断器件失效的1个敏感参数。