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密码芯片的安全性测试原理
2007/7/28
期刊信息
篇名
密码芯片的安全性测试原理
语种
英文
撰写或编译
作者
范明钰,王光卫
第一作者单位
刊物名称
已投电子科技大学学报,核
页面
出版日期
年
月
日
文章标识(ISSN)
相关项目
密码芯片安全性测试原理和方法
一种IDEA密码芯片的设计实现
2007/7/28
期刊信息
篇名
一种IDEA密码芯片的设计实现
语种
中文
撰写或编译
作者
王宇飞,范明钰,王光卫,张九华
第一作者单位
刊物名称
电子科技大学学报,核心期刊,已录用
页面
出版日期
年
月
日
文章标识(ISSN)
相关项目
密码芯片安全性测试原理和方法
一种IDEA密码芯片的算法中关键运算模块的设计实现
2007/7/28
期刊信息
篇名
一种IDEA密码芯片的算法中关键运算模块的设计实现
语种
英文
撰写或编译
作者
王宇飞,范明钰,王光卫,张九华
第一作者单位
刊物名称
微电子学,核心期刊,已录用
页面
出版日期
年
月
日
文章标识(ISSN)
相关项目
密码芯片安全性测试原理和方法