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搜索结果: 1-3 共查到电子科学与技术 器件性能相关记录3条 . 查询时间(0.217 秒)
压电光电子学效应是利用压电半导体材料在受到外加应变时所产生的压电电势/压电电荷调控器件界面/结处的能带结构和光生载流子行为,进而对器件性能进行调制的一种新型效应。近年来,有关压电光电子学效应调制光电器件性能的研究工作只利用了某一极性(正性或负性)的压电电荷,而忽视了另一极性的压电电荷。关于两种压电电荷耦合效应的分析与讨论一直未见报道。近日,西安交通大学微电子学院贺永宁教授课题组青年教师彭文博博士带...
HgCdTe的位错及其对器件性能影响的研究。
为解决三代微光管寿命问题,采用电子显微镜和质谱仪对微通道板输入面溅射蒸镀的Al2O3膜质量进行了分析,研究了膜层对器件性能的影响,并就Al2O3给三代微光夜视成像器件带来的成像质量问题进行了讨论。研究结果表明:尽管Al2O3薄膜可以有效地防止离子反馈,但给管子成像质量带来了严重影响,使得图像模糊,信噪比降低等。提出了从本质上解决器件寿命问题的有效措施是将光电阴极与显示屏进行真空隔离,以实现光电阴极...

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