工学 >>> 电子科学与技术 >>> 电子技术 光电子学与激光技术 半导体技术 电子科学与技术其他学科
搜索结果: 1-2 共查到电子科学与技术 scanning probe相关记录2条 . 查询时间(0.078 秒)
Since the invention in 1980s, scanning probe microscopy (SPM) has been considered as the valuable avenue to visualize topography of sample in nanoscale. After more than 30-year development, SPMs have ...
IBM researchers have used a nanometre-sized tip to create features as small as 15 nm in organic resist materials, which are normally used to make semiconductor chips. This is half the size of structur...

中国研究生教育排行榜-

正在加载...

中国学术期刊排行榜-

正在加载...

世界大学科研机构排行榜-

正在加载...

中国大学排行榜-

正在加载...

人 物-

正在加载...

课 件-

正在加载...

视听资料-

正在加载...

研招资料 -

正在加载...

知识要闻-

正在加载...

国际动态-

正在加载...

会议中心-

正在加载...

学术指南-

正在加载...

学术站点-

正在加载...