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搜索结果:
1-2
共查到
“
半导体测试技术 芯片
”
相关记录2条 . 查询时间(0.431 秒)
中国科学院新疆理化技术研究所专利:一种LDO
芯片
的辐照测试系统及方法
中国科学院新疆理化技术研究所
专利
LDO芯片
辐照测试系统
2023/12/4
本发明提供了一种LDO
芯片
的辐照测试系统及方法,主要解决通过现有技术测试出的
芯片
与其实际情况存在较大差异,无法完整、全面的反映
芯片
真实的抗辐射能力的技术问题。本发明的测试系统包括电源、测试模块、辐照模块及辐射场,其中,电源模块和测试模块位于辐射场外,辐照模块位于辐射场内,可对
芯片
在辐照过程中的状态进行实时监测,进而获取过程数据;同时,辐照模块可放置N个待测
芯片
,且各待测
芯片
相互独立,由此可对待测芯...
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西安交通大学大杨树明团队精进铸就半导体
芯片
检测“大国重器”
西安交通大学
杨树明
半导体芯片检测
大国重器
2022/10/25
近日,中国科协发布了首批“科创中国”创新基地认定名单,西安交通大学牵头组织建设的“半导体
芯片
检测技术创新基地”入选产学研协作类创新基地。该创新基地将聚焦国家急需解决的半导体
芯片
检测领域关键技术及装备,通过与半导体
芯片
制造企业建立产学研合作,推动科技成果转化及产业化进程。
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