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2024年3月8日,中国科学院理化技术研究所承担研制的5吨/天级大型氢液化系统在北京通过测试验收。按照任务书指标要求,系统满负荷稳定运行时间8.5小时,低负荷稳定运行时间73小时。在满负荷运行条件下,氢气液化率3070.2 L/h(约5.17吨/天),液氢产品的仲氢含量98.66%,液化系统能效比12.98 kWh/kg液氢(含液氮损耗)。
中国科学院沈阳自动化研究所专利:一种主轴轴承结合部动刚度测试装置
本发明涉及一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法,该方法通过对在轨暗场测试采集到的其中任一幅图进行计算,得到该幅图的背景信号SBG和图像饱和信号Smax,然后统计该幅图中信号灰度值介于2SBG和Smax之间的热像素信号个数,对于单个热像素信号计算其最亮像素的灰度值,统计单个热像素的拖尾信号所占的像素个数,并计算单个热像素所占拖尾像素的灰度值之和,再计算单个热像素信号转移到输出端的转移...
本发明涉及一种辐照后互补金属氧化物半导体光子转移曲线和转换增益的测试方法,该方法涉及装置是由静电试验平台、积分球光源、三维样品调整台、样品测试板、互补金属氧化物半导体样品、直流电源和计算机组成,通过调整积分球光源的辐照度和测试软件的积分时间,使两者的乘积为互补金属氧化物半导体的饱和输出,并计算辐照后暗场的平均灰度值和相应的灰度值的时域方差。在亮场条件下,计算辐照后亮场的平均灰度值和相应的灰度值的时...
本发明属于光电器件测试技术领域,涉及一种提高低温光致发光测试精度的实验方法;该方法中涉及装置是由真空罩、防热辐射屏、待测样品、样品架、凸透镜、滤光片、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成,利用防热辐射屏出射角大于90度的出射窗口收集待测样品发出的光致发光,从而达到提高光致发光测试精度的目的。本发明具有操作简单、效率高、提高测试精度、节省测试时间等特点。
本发明公开了一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法,采用SET幅值‑宽度、幅值概率密度及分布、含有触发阈值参数的SET截面三种方法,建立了完整的模拟电路SET表征方法,采用该方法不仅能够描述模拟电路SET的全部特性,而且解决了模拟电路SET阈值不统一的特殊问题。具有SET特性完整、通用性强、可统计量化的特点。
本发明涉及一种氧/碘超音速混合热流场的测试装置。采用一套基于高速CCD相机的图像测试装置,对超音速注碘的氧碘化学激光器(COIL)热流场(即氧碘化学激光器运行中的真实流场)的混合情况进行定量测试。本装置包括混合流场测试段、滤光装置、高速CCD相机和一个计算机数据处理系统。本装置通过特殊的测试段设计,使得氧碘混合流场在垂直喷管轴线方向沿流向从喷管出口可见,结合一个滤光装置,用高速CCD相机对氧/碘混...
中国科学院合肥物质科学研究院专利:用于地面无人平台的室内测试方法、系统及计算机设备
中国科学院合肥物质科学研究院专利:一种基于场景对抗的智能驾驶车辆自主能力测试方法
中国科学院合肥物质科学研究院专利:基于任务的机器人平台自主能力测试装置及测试方法
中国科学院合肥物质科学研究院专利:一种动态气敏元件性能测试装置
为深化校企合作,促进产教融合,助力集成电路行业人才培养,2023年12月12日-14日,学院联合爱德万测试(中国)管理有限公司在浦口办学点成功举办Advantest江苏地区首场ATE测试培训活动,吸引了南京邮电大学、东南大学、南京信息工程大学等高校近30余名学员参加本次培训。本次活动依托学院 “工业和信息化集成电路封测领域产业人才基地”。
本发明涉及一种实现半导体器件1/f噪声变温测试的方法及装置,该方法首先构建半导体器件1/f噪声测试中待测样品的变温环境,将1/f噪声测试系统的室温测试盒扩展至变温室,变温室利用稳态气泡原理控温构建了81K‑500K连续可调的变温环境;其次,设计变温室中的样品架及样品夹具板,实现多种封装的半导体器件在变温环境中的安装及封装半导体器件中的温度快速传递,设计待测样品的偏置及测试数据传递通路,...
中国科学院合肥物质科学研究院专利:分布式人体运动环节加速度测试装置
中国科学院合肥物质科学研究院专利:一种蹦床同步测试系统

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