搜索结果: 151-165 共查到“电子科学与技术 测试”相关记录274条 . 查询时间(0.184 秒)
基于LabVIEW的微机械陀螺自动测试系统开发
微机械陀螺 闭环驱动控制 LabVIEW软件 性能测试
2014/4/30
为了快速评估微机械陀螺的性能参数,结合NI PXI 4461数据采集卡,用LabVIEW软件实现了陀螺信号处理算法和若干关键指标测试功能,包括陀螺扫频测试、闭环驱动控制测试、标度因数和零偏等相关性能测试。实验结果表明,该自动测试系统借助LabVIEW强大的信号处理功能以及灵活的在线调试大大地提高了陀螺芯片测试与筛选的效率,可以快速可靠地挑选出性能优良的陀螺芯片,对陀螺的生产加工具有重要的促进作用。
磁力轴承悬浮性能测试系统的设计
磁力轴承 磁场均匀性 霍尔传感器
2014/5/13
文章介绍了磁力轴承悬浮性能测试仪的研制。测试仪以PIC单片机和霍尔传感器为核心,包括信号采集电路、信号处理电路、电机驱动电路、LCD显示电路及微机接口电路等。测试仪具有能在PC机上实时显示磁力轴承性能的特点,能运用于磁力轴承性能的分析和检测,以提高轴承的成品率。
成都成英特尔全球最大芯片封装测试中心之一
英特尔 芯片 封装 测试
2011/10/31
2010年4月26日,英特尔成都芯片封装测试厂第4.8亿颗芯片下线,最先进的2010全新酷睿移动处理器正式投产。至此,成都成为英特尔全球最大芯片封装测试中心之一。
作为中国唯一的英特尔芯片封装测试中心,成都厂已封装测试4.8亿颗芯片,确立了其在英特尔全球布局中的重要地位。2010年下半年,成都工厂还将建设成为英特尔全球集中进行晶圆预处理的三大工厂之一,成为全球封装测试来料的重要供应基地。
一种单片集成电容式压力传感器的设计、制造和测试
单片集成 电容式压力传感器 接口电路
2014/5/14
提出了一种新型电容式压力传感器。在外加压力下,该传感器的极板面积、间距以及介质层介电常数均发生改变,并导致电容发生变化。同时介绍了接口电路的设计,该电路基于电容-频率转换原理。该传感器结构简单,实现了与CMOS接口电路集成。传感器采用标准CMOS工艺与后处理工艺相结合的方式制造。结果表明,在800hPa到1100hPa的压力范围,传感器灵敏度约为44fF/hPa,接口电路的分辨率为3.77Hz/h...
基于MEMS的压电微能量采集器的电路研究与测试
能量采集 MEMS 压电效应 悬臂梁
2014/5/14
微能量采集技术是利用某种效应把周围环境中的某种形式的能量转换成电能,为嵌入式系统和无线传感网络中的MEMS器件供能。本文探讨了一种基于MEMS技术的压电型微能量采集器。微能量采集器工作于低频环境,当给其振动激励信号时,它能够把机械能转换为电能。但是能量采集器直接输出的是交流电压,一般不能直接为器件供能。所以,利用AC-DC电路把交流转换为直流,实现为MEMS器件供能。文中给出了微能量采集器的测试电...
上海无线通信研究中心召开构建短距离无线通信测试中心研讨会(图)
无线通信 测试 研讨会
2011/12/2
2010年 3月18日上午,在上海经信委的建议下,上海无线通信研究中心组织召开构建短距离无线通信测试中心研讨会。研讨会由中心常委副主任赵建龙研究员主持,上海市经信委林晶处长、贺奇助理,上海市科委信息处缪军副处长、李甲主管和国内移动通信领域的专家共20余人参加了研讨会。
自动测试系统效能评估体系
作用域 自动测试系统 效能评估 层次分析法
2011/3/16
为消除缺乏有效验证带来的自动测试系统(automatic test system, ATS)开发过程中可能存在的巨大风险,缩短研制周期,提出了ATS的效能评估体系(effectiveness evaluation system, EES)。根据军用ATS更注重于时间与测试能力的提升的特点,在ADC评估框架的基础上,结合层次分析法(analytic hierarchy process, AHP)建立...
在一些测试生成算法中,通过数/模和模/数转换器将模拟系统转换为离散数字系统,使得测试生成和响应分析在数字信号领域进行。提出了一种基于支持向量机(support vector machine, SVM)的模拟测试生成算法,通过SVM解决采样空间的线性分类问题,生成的测试序列可直接作为激励信号作用于被测系统,通过输出响应即可判断是否故障。为了减少计算代价,采用一种非等间距方法压缩脉冲响应采样向量,在降...
基于历史数据的测试任务约简和故障诊断
故障诊断 粗糙集 贝叶斯后验概率 0-1规划隐数法
2013/4/28
针对部队航电组件测试任务繁重、故障定位率低的问题,提出一种利用历史数据来简化测试任务、提高故障定位率的方法。利用粗糙集信息系统理论,建立了航电组件故障信息系统模型;基于测试任务辨识函数和诊断允许误差对测试任务进行约简;基于最短测试时间选出最优测试任务集;利用贝叶斯最大后验概率进行故障诊断推理,将诊断问题归结为不等式约束极值问题;用0-1规划隐数算法求得最优解。最后以某型飞机惯导部件为例验证了方法的...
第一届SWAN测试技术研讨会顺利召开(图)
SWAN测试 研讨会
2011/12/2
2009年12月22日-23日,第一届SWAN测试技术研讨会在中科院微系统与信息技术研究所5号楼6楼会议室召开。大唐移动、中国电信、华为技术有限公司、中兴通讯、清华大学、中国科学技术大学、北京邮电大学、西安交通大学、东南大学、华中科技大学、电子科技大学以及安捷伦、思博伦、泰克等包括大学、运营商、设备商在内的近30家单位的代表出席了该次会议,会议由上海无线通信研究中心杨旸研究员主持。
电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现
模拟电路 模拟数字转换 内建自测试 可测性设计
2012/4/14
模拟/数字转换器(ADC)是构成混合信号电路系统的基本器件。针对ADC测试中存在的问题,该文提出了一种新颖的使用斜坡信号作为测试激励的ADC内建自测试输出分析方法,相对于直方图分析方法,具有更短的测试时间,并且硬件资源开销较小。该方法除了可以测试ADC的差分非线性和积分非线性等静态参数,还可检测ADC的漏码特性。该文给出了两种完整的ADC内建自测试实现结构,可用于不同配置的混合信号电路系统。实验结...
EB-WiCO测试技术研讨会在上海无线通信研究中心召开(图)
EB-WiCO测试 研讨会
2011/12/2
2009年10月29日,中心科研人员与来自华东师范大学、上海大学、同济大学等单位的代表,在上海无线通信研究中心七楼会议室参加了由EB公司和中心联合召开的测试技术研讨会。首先,EB公司中国区销售与市场经理彭林庭简单介绍了EB公司的发展概况和研究方向。随后,EB公司的工程师就基于网络级无线环境下的测试及基于无线MIMO设备的OTA性能测试两大解决方案分别进行了阐述。会上大家踊跃发言,积极讨论,场面热烈...