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搜索结果: 1-2 共查到InGaAsP/InP相关记录2条 . 查询时间(0.046 秒)
本文用DLTS谱仪研究了SiO2限制的InGaAsP/InP双异质结发光管中的深能级。结果表明:只有在p-n结位于p-InP/n-InGaAsP界面处的个别器件中,有△E=0.24eV的多子陷阱。
本文研究了γ辐照对光通信用1.3μm InGaAsP/InP双异质结发光管特性的影响,结果表明:在辐照剂量1×105—1×107rad范围内,辐照前后器件的光功率和电带宽未发生明显变化;当辐照剂量>1×107 rad后,器件的光功率下降,电带宽上升。器件在辐照前后的I-V特性和EL图象未发生变化。用少子寿命的变化度(τ/τ0)讨论了有关结果。

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